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電子束為電子顯微鏡觀察樣本的光源
掃瞄式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope , SEM)
利用陰陽兩極之間電壓差來加速電子，并用電磁線圈聚焦和控
制電子束進行方向，即電子束為電子顯微鏡觀察樣本的光源。當電
子束撞擊樣本時產生反射電子(back-scattered electrons)及次生
電子 (secondary electrons)，利用兩者的明暗對比，以顯示樣本
試驗機
本研究采用的試驗機，其加壓范圍有 2 噸、10 噸、50 噸及 200 噸等四種自動
壓力調整功能，
壓汞式孔隙分析儀(Mercury Intrusion Porosimetry , MIP)
利用油壓將汞貫入水泥漿體中，藉由貫入壓力與貫入量來估測
漿體中的孔徑分佈情形
X 光繞射分析儀(X-ray Diffraction , XRD)
利用高速電子槍射擊銅靶激發出 X 光，再以此 X 光對待測粉末
進行繞射，依其不同角度所呈現的強度來進行成份分析，
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