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近場光學顯微鏡量測技術簡介
近場光學顯微術(SNOM)量測
在光纖所熔拉成的探針，有大約50nm大小的孔徑，在結合原子力顯微儀技術以及鎖相量測技術，
使得近場光學顯微鏡能夠突破光學繞射極限，觀察奈米級結構的光電響應。激光耦合進入光纖，以50nm大小的范圍局部照射在太陽能電池樣品表面，
并且藉由原子力回饋機制，探針光源與表面保持在10nm左右的距離。由各處照射后產生的光電流，經由鎖相放大器擷取訊號，
得到表面形貌以及表面各處的光電響應。
近場光學顯微術應用在研究有機太陽能電池以及多晶矽薄膜太陽能電池等等
利用近場光學顯微術，有機太陽能電池中的材料分離效應以及多晶矽薄膜太陽能電池的晶界電荷分離可以觀察到。
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