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LED模組亮度檢測(cè)的方式簡(jiǎn)介-CCD測(cè)量顯微鏡
大型發(fā)光二極體(LED)顯示器之LED顯示模組，常因個(gè)別LED特性問(wèn)題造成顯示畫(huà)面有亮度不均勻情形，
形成畫(huà)面區(qū)塊狀況，使得顯示效果大打折扣。本文提出一個(gè)亮度偵測(cè)器，對(duì)LED顯示模組內(nèi)的每一顆LED做亮度測(cè)試，
計(jì)算出每一區(qū)域LED應(yīng)該補(bǔ)償之驅(qū)動(dòng)電流，并將該方法以硬體電路實(shí)踐之，
使達(dá)成即時(shí)補(bǔ)償?shù)囊螅逡蕴岣叽笮蚅ED顯示面板發(fā)光亮度的均勻性，進(jìn)而產(chǎn)生令人賞心悅目的顯示畫(huà)面。
以往LED模組亮度檢測(cè)系統(tǒng)有下列方式：
1. 以CCD攝影機(jī)為取像設(shè)施，其優(yōu)點(diǎn)為檢測(cè)平面資料一次擷取，
但相對(duì)的缺失則是影像資料需要高速運(yùn)算，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，有實(shí)用上的問(wèn)題；
2. 采用光電晶體陣列取像，優(yōu)點(diǎn)是亮度資料擷取快速，缺失則是需要精密的機(jī)械機(jī)構(gòu)解決定位問(wèn)題以及導(dǎo)光設(shè)施，
才能避免各個(gè)LED光源的干擾。
優(yōu)點(diǎn)如后所述：
1. 采用區(qū)域亮度量測(cè)法的光電晶體陣列取像避免了精密結(jié)構(gòu)的困擾；
2. 提升檢測(cè)速度；3. 量測(cè)數(shù)據(jù)換算成補(bǔ)償數(shù)值填入LED模組，使得LED模組發(fā)光均勻性提升至90%以上。
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