豐臺(tái)光學(xué)顯微鏡倍率為(×100)的物鏡觀察樣品表面的成像
作者: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-02 20:54:47點(diǎn)擊:1848
信息摘要:
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光學(xué)顯微鏡倍率為(×100)的物鏡觀察樣品表面的成像
首先,激光光先藉由分光片(beam splitter) 通過(guò)長(zhǎng)工作距離的顯微鏡物鏡而聚焦至樣品上。
若使用倍率為一百倍(×100)的物鏡,聚焦后的激光光點(diǎn)大小約為1 μm。樣品被激發(fā)的螢光經(jīng)由原路徑由同一物鏡蒐集,
最后再以一聚焦透鏡蒐集進(jìn)光譜儀。在此光路徑中,可以利用一分光片,
將樣品表面的影像成像于目鏡或電荷耦合元件(Charge Coupled Device, CCD)上;藉此,
可以調(diào)整激光光點(diǎn)與樣品表面結(jié)構(gòu)之間的相對(duì)位置,進(jìn)而量測(cè)不同位置的μ-PL光譜。
根據(jù)量測(cè)需求,光譜儀可挑選合適的光柵。一般常見的有光柵有三種規(guī)格,
分別為600、1200、1800 g/mm(每毫米中的條紋數(shù))。最后光譜儀的出口處,
可采用光電倍增管或CCD偵測(cè)不同波長(zhǎng)的螢光強(qiáng)度。由于某些樣品需在低溫的情況下才能偵測(cè)到螢光訊號(hào),
因此μ-PL可搭配開放式低溫系統(tǒng),利用連續(xù)流入的液態(tài)氦將樣品溫度降低,在更低可達(dá)4.2 K的環(huán)境下
進(jìn)行μ-PL光譜量測(cè)。此外,為了進(jìn)行螢光光譜的偏振光分析,也可利用二分之一及四分之一波長(zhǎng)波片(waveplate)
和偏振晶體,并將其架設(shè)在進(jìn)入光譜儀前之光路上。接下來(lái),我們將分別敘述μ-PL在量子點(diǎn)及微共振腔之應(yīng)用實(shí)例
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