豐臺(tái)光學(xué)顯微鏡通常被使用來觀察樣品斑點(diǎn)的位置

作者：發(fā)布時(shí)間：2022-07-02 20:55:11點(diǎn)擊：1926

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顯微光譜學(xué) IR microscopy

對(duì)于物理尺寸在10至500 mm范圍的樣品，可以使用IR顯微光譜法來觀測(cè)樣品中物種之吸收光譜或者反射光譜。

IR顯微鏡通常是由兩具顯微鏡所構(gòu)成的，

其中一具是一般的光學(xué)顯微鏡，

另一具則是具有反射光學(xué)部分的IR裝置，而能夠?qū)R光束的大小減少到與樣品的尺寸相近。

光學(xué)顯微鏡通常被使用來觀察，預(yù)備以IR光束研究之樣品顆粒或者樣品斑點(diǎn)的位置。

IR光源通常是一具傅立葉轉(zhuǎn)換光譜儀，而不是光柵型儀器。

偵檢器通常是比其他IR偵檢器類型更為靈敏的液態(tài)氮冷卻式碲化汞–碲化鎘光導(dǎo)電裝置。

在目前，它的一些用途包括有，針對(duì)聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、與薄層式聚合物薄板之個(gè)別層面等各項(xiàng)，

進(jìn)行辨識(shí)工作；針對(duì)纖維、涂料、進(jìn)行辨識(shí)工作；對(duì)電子組件之污染物進(jìn)行辨識(shí)工作等等

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