在線留言
網站地圖 
RSS
您好，歡迎訪問老上光儀器總廠網站！
聯系地址：北京市海淀區上地信息路信息產業三街
聯系電話 
152 0116 0776 / 400-811-7895
掃瞄式電子顯微鏡實作訓練
利用TEM來研究薄膜沉積厚度，可印證出沉積層數，分別可了解相同濺鍍條件之下薄膜沉積速度及厚度與沉積層數。
TEM圖中顯示出碳黑與碳黑披覆鉑觸媒之微觀結
構與分佈狀態，與不同碳黑與Clay比例所制備之觸媒載體，由場發射式掃瞄式電子顯微鏡
（field-emission scanning electron microscope,FESEM）所拍攝之表面形貌了解不同比例的clay，
所造成碳黑分散程度及分散后的碳黑顆粒大小
網站網友點擊量更高的文獻目錄排行榜：
點此鏈接
關注頁面底部公眾號，開通以下權限：
一、獲得問題咨詢權限。
二、獲得工程師維修技術指導。
三、獲得軟件工程師在線指導
toupview,imageview,OLD-SG等軟件技術支持。
四、請使用微信掃描首頁底部官主賬號！ 
客服1