石景山光學(xué)儀器常識(shí)-用于工件的瑕疵檢測(cè)金相顯微鏡
作者: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-02 20:57:51點(diǎn)擊:1934
信息摘要:
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光學(xué)儀器常識(shí)-用于工件的瑕疵檢測(cè)金相顯微鏡
目前檢測(cè)表面瑕疵的方法一般是利用黑白影像的灰階值(gray scale)之分布來(lái)決定工件的表面瑕疵,
但對(duì)于微小瑕疵或顏色產(chǎn)生些微變化時(shí),若使用黑白影像的灰階分布來(lái)決定表面瑕疵部份則檢測(cè)效果較差。
針對(duì)導(dǎo)線架鍍銅部份使用彩色影像并藉由彩色影像中R(紅),G(綠)與B(藍(lán))三原色及各種色彩模式的指標(biāo)
以提供更多的資訊來(lái)表現(xiàn)出導(dǎo)線架工件的瑕疵部份,而本研究的檢測(cè)方法是主要采用貝氏機(jī)率分類(lèi)器(Bayes classification),
并利用由下而上的逐步搜尋策略(bottom-up stepwise search)找出更佳色彩指標(biāo)的組合,以有效的檢測(cè)出具有表面瑕疵的工件。
探討光源亮度固定與光源亮度變動(dòng)(亮度衰減)環(huán)境對(duì)檢測(cè)效果的影響,由各種指標(biāo)的組合進(jìn)行導(dǎo)線架表面的分析,
找出在光源亮度固定及光源亮度衰退的情況下能適用于導(dǎo)線架之電鍍表面品質(zhì)特性的更佳指標(biāo)組合,
最后并利用所選取的指標(biāo)組合進(jìn)行工件瑕疵部份的分割,以驗(yàn)證其指標(biāo)組合的適用性。
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