通州光學顯微鏡倍率為(×100)的物鏡觀察樣品表面的成像

作者：發布時間：2022-07-02 20:54:47點擊：1850

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光學顯微鏡倍率為(×100)的物鏡觀察樣品表面的成像

首先，激光光先藉由分光片(beam splitter) 通過長工作距離的顯微鏡物鏡而聚焦至樣品上。

若使用倍率為一百倍(×100)的物鏡，聚焦后的激光光點大小約為1 μm。樣品被激發的螢光經由原路徑由同一物鏡蒐集，

最后再以一聚焦透鏡蒐集進光譜儀。在此光路徑中，可以利用一分光片，

將樣品表面的影像成像于目鏡或電荷耦合元件(Charge Coupled Device, CCD)上；藉此，

可以調整激光光點與樣品表面結構之間的相對位置，進而量測不同位置的μ-PL光譜。

根據量測需求，光譜儀可挑選合適的光柵。一般常見的有光柵有三種規格，

分別為600、1200、1800 g/mm(每毫米中的條紋數)。最后光譜儀的出口處，

可采用光電倍增管或CCD偵測不同波長的螢光強度。由于某些樣品需在低溫的情況下才能偵測到螢光訊號，

因此μ-PL可搭配開放式低溫系統，利用連續流入的液態氦將樣品溫度降低，在更低可達4.2 K的環境下

進行μ-PL光譜量測。此外，為了進行螢光光譜的偏振光分析，也可利用二分之一及四分之一波長波片(waveplate)

和偏振晶體，并將其架設在進入光譜儀前之光路上。接下來，我們將分別敘述μ-PL在量子點及微共振腔之應用實例

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