通州反射鏡、光圈、UV光源、偏光顯微鏡與面板之制作及量測(cè)

作者：發(fā)布時(shí)間：2022-07-02 20:56:53點(diǎn)擊：1875

信息摘要：

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反射鏡、光圈、UV光源、偏光顯微鏡與面板之制作及量測(cè)

一、目的：

(1) 學(xué)習(xí) surface-stabilized cholesteric texture, SSCT樣品之制作。

(2) 學(xué)習(xí)兩種模式之SSCT樣品于電壓控制下穿透度與響應(yīng)時(shí)間之量測(cè)，藉以瞭解液晶于聚合物轉(zhuǎn)向之原理與光電特性。

二、使用儀器設(shè)備及材料：

儀器設(shè)備: 電壓量測(cè)系統(tǒng)(數(shù)位電表、示波器、任意函數(shù)產(chǎn)生器、GPIB介面控制卡、PC、光偵測(cè)器、電壓放大器)、

偏振片、氦氖雷射、光衰減片(NDF)、反射鏡、光圈、UV光源、偏光顯微鏡、配向機(jī)、烤箱、ITO玻璃清潔設(shè)備、玻璃切割機(jī)、藥品振盪器、微量天平、旋轉(zhuǎn)涂佈機(jī)。

使用材料: 液晶E7、chiral dopant (CB15)。

三、實(shí)驗(yàn)步驟：

(一) SSCT樣品之制作：

(1) 液晶混合材料的配制：利用微量電子秤，精密量取比例為63% : 37%之E7與CB15，倒入小樣品瓶中備用。

(2) SSCT 面板的制作:制作SSCT樣品，需事先作垂直配向處理。并依照實(shí)驗(yàn)一之步驟可得到SSCT之面板。

(二) SSCT樣品之特性量測(cè)

(1)光電特性量測(cè) (T-V curve及response time)：

SSCT樣品之光電特性量測(cè)方法與實(shí)驗(yàn)三之方法相同，其量測(cè)步驟請(qǐng)參考實(shí)驗(yàn)三；唯外加之電壓為脈衝方波。

(2)光譜特性量測(cè)：

1.架設(shè)光譜儀如圖(3)；注意光源、樣本架、光譜儀、偏光鏡須至于同一水平直線上。

2.使用軟體OOIBase32以及CCD光譜儀來量測(cè)光穿透量。

3.之后數(shù)據(jù)以軟體KGRAPH作圖，畫出穿透率或反射率的圖形。

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通州反射鏡、光圈、UV光源、偏光顯微鏡與面板之制作及量測(cè)

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