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用FE-SEM儀器觀察，金屬點(diǎn)的分布情況下討論在成長金屬點(diǎn)陣
是以直流濺鍍白金以及熱阻絲蒸鍍鋁的差異。
是以直流濺鍍白金以及熱阻絲蒸鍍鋁的差異。
濺鍍白金舉離后以FE-SEM顯微鏡觀察之照片。
可以看出在舉離后，所留下的較暗的痕跡明顯與奈米球舉離前的六方最密堆積
之圖案近似，且暗點(diǎn)中心間距與奈米球的大小接近，
因此可以判斷較亮的部份為白金膜，只是白金膜彼此相連并未成島狀分布圖案。
相較于的蒸鍍鋁膜舉離后的結(jié)果，可明顯看出深色圓形圖案與奈米球原先的
大小及分布均相同，較亮的部份則為舉離后留下了的鋁膜，呈現(xiàn)近似三角形的點(diǎn)
狀陣列。此兩種結(jié)果的不同，可能的原因是濺鍍是在較高的壓力下(約50 mTorr) ，
粒子的平均自由徑較短，因此金屬原子容易因相互碰撞而擴(kuò)散，
以致于奈米球無法有效作為遮罩遮蔽金屬原子，因此鍍上的白金彼此相連，
舉離后無法留下島狀陣列。而在蒸鍍中，壓力小于10-5 Torr，平均自由徑可長達(dá)
數(shù)十cm，因此奈米球可成功的遮蔽金屬原子，而鍍上鋁膜可成功的留下與理論所
預(yù)期相同的金屬點(diǎn)陣列。不過對于舉離前的奈米球完整區(qū)域，
在舉離后留下的規(guī)則金屬點(diǎn)陣列區(qū)域不如預(yù)期的多，
在這一方面的實(shí)驗(yàn)需要更進(jìn)一步的努力空間
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