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DIC導電粒子顯微鏡工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統,微分干涉（DIC）觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。
儀器特點
1. 專業DIC技術，平場半復消色差物鏡，整個視野干涉色彩均勻，圖像清晰。
2. 專業應用于LCD、OLED、PCB、FPC、FPD領域。
儀器參數
序號 | 名稱 | 參數 |
1 | 平場半復物鏡 | 標準10倍，可選5倍、20倍 |
2 | 光學放大 | 10倍光學放大系統 |
3 | 相機 | 500萬HDMI成像系統 |
4 | 照明系統 | 科勒照明，帶DIC可調裝置 |
5 | 可選照明系統 | 40瓦藍光照明（或白光） |
6 | 移動臺 | 移動范圍：50*50mm |
7 | 聯想品牌機 | 天逸510 |
8 | 主機重量 | 毛重：3.3kg 凈重：2.2kg |
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聯系地址：北京市海淀區上地信息路信息產業三街
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